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  • gentec-eo激光功率計(jì)和能量計(jì)在這個(gè)領(lǐng)域擁有超過(guò)45年的歷史。 Gentec-EO功率計(jì)的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面。憑借45年的記錄以及從工廠到醫(yī)院和實(shí)驗(yàn)室提供激光功率和能量測(cè)量...

  • 在硅太陽(yáng)能電池板的生產(chǎn)過(guò)程中,硅晶體中的應(yīng)力在制作過(guò)程中往往沒(méi)有被檢測(cè)到,我們描述了一種測(cè)量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測(cè),它可以是方形的,也可以是生長(zhǎng)的,然后被鋸成硅片,當(dāng)這臺(tái)儀器被用作質(zhì)量控制工具時(shí),在后續(xù)...

  • 加拿大Gentec-EO是激光功率計(jì)能量計(jì)供應(yīng)商。UP -50W系列:50 mm Ø, 5 mW – 85 W, 100 kW/cm2 。主要特點(diǎn):1.模塊化概念增加您探頭的功率能力 :4 ...

  • Gentec Electro Optics提供全系列產(chǎn)品以滿足您的脈沖能量測(cè)量需求。Gentec-EO激光能量計(jì)從精益和便攜式QE12和QE25系列,大光圈QE50、QE65和QE95系列到我們的大型...

  • 加拿大Gentec-EO 推出激光功率計(jì)能量計(jì)表頭,為擁有完整的激光功率測(cè)量系統(tǒng),您將需要一款采集與讀出設(shè)備搭配您的功率探測(cè)器。我們提供不同功能的設(shè)備以滿足需求。無(wú)論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD...

  • Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評(píng)估的主要應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器( PE...

  • 針對(duì)高反射率(R99.7%)的光學(xué)樣品,德國(guó) IPHT Jena研發(fā)了光腔衰蕩光譜法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)CRD高反射率測(cè)量?jī)x, 它通過(guò)對(duì)指數(shù)型腔內(nèi)衰...

  • 美國(guó)Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測(cè)量在與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后,Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng),用于測(cè)量大面積光學(xué)材料,如用于LCD...

  • QptLuxSD是一款創(chuàng)新性的光學(xué)表面瑕疵檢測(cè),具備高重復(fù)性和準(zhǔn)確性,系統(tǒng)根據(jù)設(shè)定的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成詳細(xì)的通過(guò)/失敗報(bào)告,與光學(xué)行業(yè)現(xiàn)在很多的具有很強(qiáng)主觀性的人工檢驗(yàn)以及其他手動(dòng)檢驗(yàn)設(shè)備相比,提供光學(xué)...

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