熱門關(guān)鍵詞: 測角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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簡要描述:美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后,Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng),用于測量大面積光學(xué)材料,如用于LCD(高達1500mm x 1500mm)的光學(xué)材料。 隨著液晶顯示器材料規(guī)格的成熟,專業(yè)化的系統(tǒng)已經(jīng)成為行業(yè)所需要的。Hinds現(xiàn)在提供從GEN5到GEN
詳細介紹
美國Hinds Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量
用于LCD的Exicor GEN系列
與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后,Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng),用于測量大面積光學(xué)材料,如用于LCD(高達1500mm x 1500mm)的光學(xué)材料。 隨著液晶顯示器材料規(guī)格的成熟,專業(yè)化的系統(tǒng)已經(jīng)成為行業(yè)所需要的。Hinds現(xiàn)在提供從GEN5到GEN8的LCD玻璃尺寸系統(tǒng),有可選的傾斜級(所有型號)以及厚度和翹曲測量(GEN5和GEN6)。
重要特點
• 占地小 - 大幅度地減少設(shè)備所需的工廠空間
• 創(chuàng)新的平臺設(shè)計 - 設(shè)計使可測量面積更大化
• 強大的自動化 - 質(zhì)量階段和硬件更大化正常運行時間
• 穩(wěn)定的服務(wù)支持 - 各地的支持中心和備件中心
• 符合工業(yè)標準 - 符合S2 / S8和CE標準
• 靈活的軟件 - 優(yōu)化的GUI軟件。 自定義功能和DLL接口可用
• 低維護設(shè)計 - 易于維修的組件
• 負載輔助 - 傾斜階段選項
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