LCD材料的超低階雙折射測量

用于LCD的Exicor GEN系列

Hinds Instruments 公司的大尺寸高精應(yīng)力雙折射分布測量系統(tǒng)用于LED液晶玻璃基板的應(yīng)力分布測量。產(chǎn)品測量精度*（0.005 nm），且定制平臺掃描，用于LED液晶面板尺寸（Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5  1150 mm x 1350 mm ）光學(xué)玻璃應(yīng)力測量，大型液晶基板應(yīng)力分布測量，應(yīng)力測量。如用于LCD（高達(dá)1500mm x 1500mm）的光學(xué)材料。

光學(xué)玻璃應(yīng)力測量重要特點：

•占地小 - 大限度地減少設(shè)備所需的工廠空間

•平臺設(shè)計 -設(shè)計使可測量面積盡可能大

•強(qiáng)大的自動化 - 質(zhì)量階段和硬件正常運行時間

•穩(wěn)定的服務(wù)支持 - 各地的支持中心和備件中心

•符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) - 符合S2 / S8和CE標(biāo)準(zhǔn)

•靈活的軟件 - 優(yōu)化的軟件。 自定義功能和DLL接口可用

•低維護(hù)設(shè)計 - 易于維修的組件

•負(fù)載輔助 - 傾斜階段選項